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半導(dǎo)體檢測(cè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱，位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜（系統(tǒng)）所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀，制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi)，以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響，同時(shí)便于機(jī)組的安裝和，電器控制面板置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。
半導(dǎo)體檢測(cè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)：
技術(shù)參數(shù)
1. 溫度范圍：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)；
2. 樣品吊籃：（WDCJ-100）350×350×380、（WDCJ-300）520 ×520×580；
3. 吊籃承重：（WDCJ-100）15Kg、（WDCJ-300）18Kg；
4. 試驗(yàn)區(qū)：①溫度波動(dòng)度±0.5℃（溫度恒定后），②溫度偏差≤3℃；
5. 高低溫區(qū)：溫度波動(dòng)度≤±2.0℃；
6. 升溫速率：1.0～3.0℃/min；
7. 降溫速度：0.7～1.0℃/min；
8. 溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤15s（樣品從高溫區(qū)到低溫區(qū)或從低溫區(qū)到高溫區(qū)）；
9. 溫度恢復(fù)時(shí)間：≤15min
10. 電源電壓：AC380±10%V 50Hz